SFH483 查看數據表（PDF） - Infineon Technologies
零件编号
产品描述 (功能)
生产厂家
SFH483 Datasheet PDF : 6 Pages
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SFH 483
W Strahlstärke Ie in Achsrichtung
gemessen bei einem Raumwinkel = 0.01 sr
W Radiant Intensity Ie in Axial Direction
at a solid angle of = 0.01 sr
Bezeichnung
Parameter
Strahlstärke1)
Radiant intensity
IF = 100 mA, tp = 20 ms
Strahlstärke1) (typ.)
Radiant intensity
IF = 1 A, tp = 100 ms
Symbol
Ie min
Ie max
Ie typ.
Werte
Values
1
3.2
20
Einheit
Unit
mW/sr
mW/sr
mW/sr
1) Die Messung der Strahlstärke und des Halbwinkels erfolgt mit einer Lochblende vor dem Bauteil (Durchmesser der
Lochblende: 1.1 mm; Abstand Lochblende zu Gehäuserückseite: 4.0 mm). Dadurch wird sichergestellt, dab bei der
Strahlstärkemessung nur diejenige Strahlung in Achsrichtung bewertet wird, die direkt von der Chipoberfläche
austritt. Von der Bodenplatte reflektierte Strahlung (vagabundierende Strahlung) wird dagegen nicht bewertet. Diese
Reflexionen sind besonders bei Abbildungen der Chipoberfläche über Zusatzoptiken störend (z.B. Lichtschranken
grober Reichweite). In der Anwendung werden im allgemeinen diese Reflexionen ebenfalls durch Blenden
unterdrückt. Durch dieses, der Anwendung entsprechende Mebverfahren ergibt sich für den Anwender eine besser
verwertbare Gröbe. Diese Lochblendenmessung ist gekennzeichnet durch den Eintrag „E 7800“, der an die
Typenbezeichnung angehängt ist.
1) An aperture is used in front of the component for measurement of the radiant intensity and the half angle (diameter
of the aperture: 1.1 mm; distance of aperture to case back side: 4 mm). This ensures that solely the radiation in axial
direction emitting directly from the chip surface will be evaluated during measurement of the radiant intensity.
Radiation reflected by the bottom plate (stray radiation) will not be evaluated. These reflections impair the projection
of the chip surface by additional optics (e.g. long-range light reflection switches). In respect of the application of the
component, these reflections are generally suppressed by apertures as well. This measuring procedure
corresponding with the application provides more useful values. This aperture measurement is denoted by “E 7800”
added to the type designation.
j Radiation Characteristics1) Irel = f ( )
40
30
20
10
0
ϕ
1.0
50
0.8
OHR01457
60
0.6
70
0.4
80
0.2
90
0
100
1.0 0.8 0.6
0.4
0
20 40 60 80 100 120
2001-02-22
4
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